文章由来：K. Sporleder et al., Quick test for reversible a🐻nd irreversible PID of bifacial PERC solar cells

部分择要：

      俩(liang)面 PERC 蓄电(dian)(dian)板(ban)侧面PID会造成(cheng)的(de)(de)不容乐(lജe)观的(de)(de)电(dian)(dian)机马力没有(you)。与单(dan)层 PERC 阳(yang)光(guang)直(zhi)(zhi)(zhi)晒(shai)能(neng)(neng)蓄电(dian)(dian)板(ban)反衬，是(shi)可以或是(shi)造成(cheng)没法(fa)(fa)逆转(zhuan)(zhuan)(zhuan)转(zhuan)(zhuan)(zhuan)的(de)(de)去极(ji)化相干电(dian)(dian)极(ji)电(dian)(dian)位(wei)差诱使阑珊（PID-p）和无法(fa)(fa)逆转(zhuan)(zhuan)(zhuan)的(de)(de)破坏电(dian)(dian)极(ji)电(dian)(dian)位(wei)差诱使阑珊（PID-c）。探讨写明，1个靠受得了的(de)(de)点(dian)评(ping)阳(yang)光(guang)直(zhi)(zhi)(zhi)晒(shai)能(neng)(neng)蓄电(dian)(dian)板(ban)电(dian)(dian)机马力没有(you)的(de)(de)体例要(yao)(yao)些(xie)(xie)一(yi)款处理的(de)(de) PID 自测(ce)(ce)体例，要(yao)(yao)些(xie)(xie)在油(you)田(tian)自测(ce)(ce)上增加(jia)照明。除此之外，还(hai)要(yao)(yao)些(xie)(xie)在自测(ce)(ce)预计(ji)内加(jia)入(ru)规复进行来将没法(fa)(fa)逆转(zhuan)(zhuan)(zhuan)转(zhuan)(zhuan)(zhuan) PID-p 与无法(fa)(fa)逆转(zhuan)(zhuan)(zhuan) PID-c 组成(cheng)毁伤的(de)(de)独立不同种类。退步(bu)横向和 PID-p 和 PIC-c 的(de)(de)进献(xian)的(de)(de)敏感地仰(yang)仗于所探讨的(de)(de)阳(yang)光(guang)直(zhi)(zhi)(zhi)晒(shai)能(neng)(neng)蓄电(dian)(dian)板(ban)。是(shi)以，在俩(liang)面 PERC 蓄电(dian)(dian)板(ban)的(de)(de) PID 自测(ce)(ce)预计(ji)中需涉及 PID 油(you)田(tian)网络(luo)的(de)(de)增加(jia)照明和规复进行。

绝对每一个零丁模块的初始状况，反面Isc 值的变更环境

       移(yi)就 1 个(ge)(ge)日头星和0.1 个(ge)(ge)日头星的(de) I–V 测量(liang)，并能即便看(kan)查到(dao)，这(zhei)两个(ge)(ge)体例直接(jie)有(you)强烈(lie)的(de)数量(liang)相(xiang)干性。看(kan)查到(dao)的(de)基💖本参数公司变更(geng)与使用在 I–V 测量(liang)的(de)照射(she)效果(guo)想关。

      认同(tong) 0.1 阳光的(de)(de)光源的(de)(de)公测装配图可(ke)是(shi)(shi)一样共用于(yu) PID 关(guan)(guan)键期(qi)(qi)和定性(xing)(xing)分析(xi)关(guan)(guan)键期(qi)(qi)。A （推广(guang)容量(liang)电(dian)池板(ban)(ban)）板(ban)(ban)块和 S（规范性(xing)(xing)容量(liang)电(dian)池板(ban)(ban)） 板(ban)(ban)块当中(zhong)的(de)(de)其它这(zhei)个较着(zhe)(zhe)辨(bian)认是(shi)(shi)规复进(jin)行。对 A🥂 板(ban)(ban)块，Isc 值(zhi)在(zai)规复步骤之一中(zhong)近(jin)于(yu)规复（上图右中(zhong)的(de)(de)玄色和灰白色条）。这(zhei)象征(zheng)意义着(zhe)(zhe)，所(suo)查(cha)寻到的(de)(de) A 板(ban)(ban)块这(zhei)边的(de)(de)阑珊大高(gao)斯(si)模糊是(shi)(shi)可(ke)ꦍ逆(ni)转(zhuan)(zhuan)转(zhuan)(zhuan)的(de)(de)，是(shi)(shi)以与(yu)PID-p 相关(guan)(guan)的(de)(de)。与(yu)此反向，S 板(ban)(ban)块在(zai)规复关(guan)(guan)键期(qi)(qi)只马太效应(ying)太小(xiao)的(de)(de) Isc 参(can)数设置的(de)(de)改动(dong)。是(shi)(shi)以，在(zai)同(tong)类区域下，PID 近(jin)于(yu)就是(shi)(shi)不可(ke)逆(ni)转(zhuan)(zhuan)转(zhuan)(zhuan)的(de)(de)，与(yu) PID-c 相关(guan)(guan)的(de)(de)。

      总而言之归结，电势(shi)差(cha)(cha)利诱阑珊(shan)（PID）对正方(fang)面(mian)日光能(neng)(neng)电池(chi)充电的(de)方(fang)面(mian)有相当大的(de)损(sun)害。有多种差(cha)(cha)同一两(liang)♒个PID 体(ti)系， 不(bu)(bu)(bu)能(neng𒁃)(neng)够(gou)逆转(zhuan)极(ji)化相干(gan) PID-p 和(he)不(bu)(bu)(bu)不(bu)(bu)(bu)能(neng)(neng)够(gou)逆转(zhuan)冲刷相干(gan) PID-c。一两(liang)个PID检(jian)(jian)验与4小时(shi)(shi)内总检(jian)(jian)验时(shi)(shi)会(hui)适用于(yu)评测微接口的(de)方(fang)面(mian)PID通络度和(he)甄别不(bu)(bu)(bu)能(neng)(neng)够(gou)逆转(zhuan)PID- p 和(he)不(bu)(bu)(bu)不(bu)(bu)(bu)能(neng)(neng)够(gou)逆转(zhuan) PID-c。

      PID 自测仪流程(cheng)图需(xu)(xu)(xu)用(yong)(yong)知(zhi)足(zu)两(liang)根(gen)本(ben)(ben)质：起首，自测仪速度也需(xu)(xu)(xu)用(yong)(yong)严格执行照(zhao)射，提防止(zhi) PID 科研成果的(de)(de)太(tai)高或太(tai)低估(gu)量(liang)。其二(er)，需(xu)(꧒xu)(xu)用(yong)(yong)这个规复方法(fa)来甄别(bie) PID-c 和(he)(he) PID-p。依旧 PID-p 脆弱院(yuan)校是(shi)可以(yi)即使(shi)沿途(tu)工(gong)作(zuo)在(zai)光(guang)伏早(zao)上的(de)(de)太(tai)阳(yang)能板发(fa)电(dian)(dian)站释放(fang)反向的(de)(de)方式给回工(gong)作(zuo)电(dian)(dian)压来规复，对 PID-c 脆弱的(de)(de)早(zao)上的(de)(de)太(tai)阳(yang)能板容(rong)量(liang)电(dian)(dian)瓶将(jiang)蒙受免费qq会员无可逆的(de)(de)热效(xiao)率剥夺。是(shi)以(yi)，俺们需(xu)(xu)(xu)用(yong)(yong)是(shi)一种是(shi)可以(yi)𒀰即使(shi)自测仪正反两(liang)面容(rong)量(liang)电(dian)(dian)瓶PID的(de)(de)反映武(wu)器(qi)装备，取得(de)联系所需(xu)(xu)(xu)要的(de)(de)直流电(dian)(dian)自测仪本(ben)(ben)质和(he)(he)原位 PID 的(de)(de)监视活儿，知(zhi)足(zu)上文分类试穿本(ben)(ben)质的(de)(de)需(xu)(xu)(xu)用(yong)(yong)。

更多文献信息，请查阅：

K. Sporleder et al., Quick test for reversible and ꦺirreversible PID of bifacial PERC solar cells

//www.sciencedirect。。ｃｏｍ/science/article/abs/🐭pii/S0927024820303548?via=ihub

弗莱贝格(ge)实验(yan)室设备与欧洲德国Fraunhofer CSP子公司警(jing)税创造了了种能(neng)作(zuo)为(wei)出口贸易合理利用的台(tai)式一体机太阳光(guang)能(neng)手(shou)机电池(ch💃i)和徵型模组的电势诱引(yin)阑珊(shan)合理的侧(ce)量进行处理项目（PIDcon bifacial）。

台式电脑单双面电板PID测试方法仪：

●   按照(zhao)IEC 62804-TS规范(fan)体例
●   易于利用(yong)的(de)台式装备
●   够丈量c-Si太(tai)阳(yang)能电(dian)池和微型(xing)模块
●   无需天气室
●   不须(xu)要电(dian)池层压(ya)
●   丈量(liang)速率：4小(xiao)时(普通)
●   可(ke)丈(zhang)量参数：分流(liu)电(dian)阻、ꩵ功(g🔥ong)率丧失、电(dian)导率、泄露电(dian)流(liu)、湿度(du)和温度(du)
●   太(tai)阳能电池能够或许经由过程EL等停止研(yan)讨
●  🍸 基(ji)于IP的(d🥃e)体系撑(cheng)持(chi)在天(tian)下任何处所停止长途操纵和手艺撑(cheng)持(chi)