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动力锂电装换保障是提议控件乃至太阳能发电量组织体制发电量保障的关头身分。后后，p型PERC动力锂电实现实现量产保障已挨着技艺难点，迫近生活保障人体极限，而各种各样n型动力锂电的实现实现量产保障普遍有太大晋升制度地方，手袋出格是TOPCon动力锂电兑换了浩繁武器装备公司、动力锂电控件公司和变电站股权投资公司的作文我喜欢。太阳能光伏系统应用程序在室外使用时，难以处理地威胁日照、环境温度、水气等身分的反应，偏轻移地威胁这些开始生效策略的反应，圆得光致衰减、資料侵蚀作用和电势利诱衰减（PID）等。最近的多长时间来，消息的PID相互作用开始变得越来越较着，严重完会让太阳能光伏系统应用程序在室外使用中表现大的面积的泄电和公率衰减景像。

PID效应（Potential Induced Degradation）又称电势引诱衰减，是电池组件的封装资料和其上外表及下外表的资料，电池片与其接地金属边框之间的高电压感化下呈现离子迁徙，而形成组件机能衰减的景象，首要包罗PID-s（分配型）、PID-p（极化型）和PID-c（侵蚀型）效应。

n型电池的电场绝对p型电池更高，电荷集合对PN结内建电场的影响加倍较着。n型电池载流子外表负荷首要集合于电池正面界面，与p型电池PN结标的目标相反，故PID衰减形式首要集合于电池正面，而电池正面是组件功率输入的主力，引发TOPCon充电手机电池的PID定律借喻PERC充电手机电池多倍较着。

一旦在组件端呈现PID效应，将会形成严峻的原资料和工序华侈。极大的影响效力与出产节拍。是以本着降本增效的目标，Freiberg instruments与Fraunhofer csp研究所结合开辟出一款(kuan)能在(zai)电池片端检测𓂃PID效(xiao)应(ying)的PIDcon Bifacial仪器。能同时(shi)输入PID-s（分流型(xing)）、PID-p（极化型(xing)）和PID-c（侵蚀(shi)型(xing)）效(xiao)🎃应(ying)对应(ying)的敏感参数。

所经应用程序将手机干电池组片、封装类型知料和破璃在140°C下隔热，暂停层压预救治，摹拟手机干电池组片在模块真个现实中合理利用情况下。产生高电压和温度过低，大束缚底检查手机干电池组片可以说 模块真个真是数据信息，以满足突出的分岐性。其检查透露图如图下图1下图。

图1. PIDcon Bifacial仪器的测试表示图

进行处理准备

PID-s产生的缘由是：

Na+在高电压下超脱穿行钝化层添补于Si的堆垛层错中，穿透性并短路等问题PN节，这引发电容串联工率电阻损坏，确立严竣的工率耗用。是以Freiberg instruments总需求的PIDcon Bifacial测量仪器所经守护进程即时论文检测干微型蓄容量电芯片导电率的总量，来描述干微型蓄容量电芯片对PID-s的强烈度能力。其測試课题如同2下图，跨越精彩纷呈的的的地方的数据源源不标干微型蓄容量电芯片引起较着的PID-s场景，而測試不时会内仍能跨越精彩纷呈的的的地方数据源源不标，此干微型蓄容量电芯片对PID-s不强烈度。

图2. 太阳能电池片PID-s测试进程参数变更(及时监控)

而太阳能电池片产生PID-p时，

微观经济电学功能上首先是展示为发生故障电流大小和引路电流的衰减。时据几篇文献综述简报，这是由于PID-p是化合物沉积在钝化层中绞碎了场反应，衰减数率飞快，要用有效记实试验过中的IV弧度专业能力懂得其衰减任务管理器。图3为PIDcon Bifacial机器设备在测试仪线程中适时实时监控的IV等值线拟合，IV等值线拟合标出，伴随衰减线程的为止，引路电阻和过压直流电压有时的降低，于30min内抵达衰减极根。一同经途线程转变导电性来抵达使其钝化层规复的目的。

图3. 太阳能电池片PID-p衰减与规复进程(及时监控)

对PID-c，

正是这是由于介电层、 通明导电钝化物塑料膜或轻金属打丈的电生物学凸显而演变成的侵袭负因素。这也是一类生物学这方面的撕碎影响，应属月亮能电瓶剧中无可逆的PID负因素。是以，正是这是由于PID-c带来的引路输出电功率、漏电感应电流和电功率下跌是那就没有办法被回应的。当呈现PID-c负因素时PIDcon Bifacial检测设备记实的IV直线在变换输出电功率化学性质后，那就没有办法回应到原始系统，长为4表达。

图4. 太阳能电池片PID-c测试进程参数变更(及时监控)

上述情况阐明，Freiberg司的PIDcon Bifacial机器设备能在微型蓄电瓶片端查重其PID相互作用，鉴别出会有PID风险源的微型蓄电瓶片，不可以其流入量粗俗加工端，提高化合物良率。也为粗俗加工端诱发了PID测式承担者，要的同时停靠放肆挣钱和提高作用的任务。

可以参考学术论文：

1. Devoto I, Halm A. Comprehensive study of PID mechanisms for n-type bifacial solar cells[C]//Proceedings of the 36th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC 2019), Marseille, France. 2019: 9-13.2. Hara K, Jonai S, Masuda A. Potential-induced degradation in photovoltaic modules based on n-type single crystalline Si solar cells[J]. Solar Energy Materials and Solar Cells, 2015, 140: 361-365.3. Luo W, Khoo Y S, Hacke P, et al. Potential-induced degradation in photovoltaic modules: a critical review[J]. Energy & environmental science, 2017, 10(1): 43-68.4. Sporleder K, Turek M, Schüler N, et al. Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells[J]. Solar Energy Materials and Solar Cells, 2021, 219: 110755.