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以后地位:日韩免费视频-日韩综合-日韩精品-精品无码视频手艺文章利(li)用(yong)率分(⛎fen)享到(dao)-൩晶胞(bao)笔记(ji)(二十二五(wu)):APEX6的透彻翻看体例-2(XRD平(ping)台)

利用分享-晶体日志(二十五):APEX6的精确翻开体例-2(XRD软件)

更新时辰:2025-09-24点击次数:386

布鲁克X光谱(pu)线(xian)局部 张振义

 

紧接着随写,这(zhei)数天在D8 VENTURE上做颗粒的(de)某些数据库,就写一(yi)写对颗粒的(de)某些物(wu)质吧。颗粒嘴(zui)笨和单晶(jing)体的(de)常试时间(jian)如(ꦆru)流水是(shi)雷同(tong)的(de)。

一、主动地(di)化XRD2 EVAL的使用

利于 D8 VENTURE/QUEST 收罗出(chu)(chu)一些试样,和温(wen)度过(guo)高(gao)情况报告下的粉末状原材(cai)料 XRD 信(xin)息,作(zuo)罢为(wei)普通任(ren)務中的常态化(hua)(hua)。以(yi)至(zhi)于良多出(chu)(chu)生出(chu)(chu)生时辰(chen),咱门能确(que)(que)认很是好的信(xin)息在格局精修。APEX6 的 XRD2 EVAL 在固(gu)有真正(Integrate Debye Rings)上,新增加的了主(zhu)動构想方法(fa)、信(xin)息了解(jie)作(zuo)用(yong)(yong)与功较,使此种(zhong)作(zuo)用(yong)(yong)与功较日益完善主(zhu)動化(hua)(hua)、简练化(hua)(hua)。往往咱门就(jiu)是制(zhi)定(ding)测探器连续(xu)、宗旨 2theta 规(gui)模化(hua)(hua)和暴光出(chu)(chu)生出(chu)(chu)生时辰(chen),就(jiu)要(yao)能确꧃(que)(que)认痕量试样 —— 以(yi)至(zhi)于一个 μg 仿品的 XRD 数据统计。对需持续(xu)高(gao)温(wen)天(tian)气(qi)保热的不变(bian)了仿品,或需绘制(zhi)变(bian)温(wen)相变(bian)讨论会的仿品,D8 VENTURE/QUEST 快速设置装(zhuang)配货(huo)架的持续(xu)高(gao)温(wen)天(tian)气(qi)控制(zhi)꧒器可便民地撑持品尝。

PC软件操(cao)控当前是简化:翻来&nb♋sp;XRD2 EVAL,下方会(hui)拒绝显示(shi) XRD 收(shouဣ)罗勇于尝(chang)试构想(xiang)。

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▲图1  XRD2 EVAL页面

在 Setup 表层中,辨(bian)别(bie) Scan 样式(shi)及各自的(de)光照。与通俗(su)化(hua)粉(fen)末(mo)状 XRD 类(lei)别(bie),Cu、Ga 靶(ba)凡事(shi)能要(yao)先拿到越来越高的(de)坡度分辩率(lv)(lv),而 Mo、Ag 靶(ba)的(de)加速度分辩率(lv)(lv)(d值(zhi💖))來询,且对强发收(shou)供试品符合有效的(de)穿透力(li)🔯性。

在(zai) Strateg🍌y 表面中,使用规(gui)则 2theta 大小与侦测(ce)器距(ju)(ju)(ju)离。做(zuo)法单晶体测(ce)量(liang)方法的距(ju)(ju)(ju)离(40 mm-50 mm)一(yi)(yi)(yi)切不(bu)能知足碎(sui)末状(zhuang)原材(cai)料 XRD 的多角度分辩率应该要,安装测(ce)量(liang)方法高低的基石哲理,侦测(ce)器距(ju)(ju)(ju)离需使用得越远,一(yi)(yi)(yi)切在(zai) 100 mm 上文(D8 VENTURE/QUEST 的远距(ju)(ju)(ju)离为(wei)(wei) 240 mm)。为(wei)(wei)升迁样(yang)件价值取(qu)向统(tong)计显示性(xing),碎(sui)末状(zhuang)原材(cai)料 XRD 测(ce)量(liang)方法常调(diao)选 Phi 360 风格(即(ji)改(gai)变红,只收(shou)罗一(yi)(yi)(yi)种图);但一(yi)(yi)(yi)旦为(wei)(wei)纯碎(sui)末状(zhuang)原材(cai)料样(yang)件,则暂时无法如斯(si),Still 风格这样(yang)能选取(qu)品级好的 XRD 图谱。

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▲图(tu)2 Still风(feng)格和Phi360 ro🦄tation 风(feng)格的成(ch🍒eng)绩差异(yi)

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▲图3 setup

小(xiao)图(tu)片软(ruan)(ruan)件(jian)会依照规定隔断与的(de)角度面(mian)积(ji)主動建(jian)议颗粒 XRD 测式(shi)进度表(biao),此刻只(zhi)需要(yao)履行 “save”(储放)和 “collect”(收罗)调(diao)控便可。小(x🐟iao)图(tu)片软(ruan)(ruan)件(jia💃n)会主動寻找(zhao)、应对颗粒数据(ju)报告,并将其拚接为大面(mian)积(ji)的(de)颗粒 XRD 图(tu)。

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▲图4 data collection

险遭可沿途期(qi)间(jian)各式各样做(zuo)好物件圈选地(di)🍒并(bing)兑(dui)换积(ji)分,所以💫拿到常用 XRD 数据报告。

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▲图 5 Integrate

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▲图6 XRD data

有的(de)(de)(de) XRD 数据报告可(ke)储存为 Bruker 的(de)(de)(de) RAW 格(ge)式,使用于 EVA 和(he) TOPAS app持续不断阐发;也(ye)可(ke)鄙(bi)人(ren)方依靠环(huan)𝓡节 “save” 药用价值储存为.XY 格(ge)式。依旧,也(ye)可(ke)间(ꦚjian)接(jie)的(de)(de)(de)在 EVA 中导(dao)到(dao) sfrm 衍(yan)射图暂停阐发。

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▲图7 save data

质量(liang)好的粉(fen)状 XRD 图(t🧜u)谱应显露的平均持续性的 Debye 环(huan),如(ru)此技能保(bao)障机(ji🏅)制积分系统难(nan)度的高精度性 —— 但(dan)这也与测试英文个人目标相干:若(ruo)尽(jin)量(liang)只用于物相阐发,对难(nan)度的明(ming)确提出则(ze)不(bu)需要太(tai)高。pc软件(jian)支配本身并无疑难(nan)问题,真(zhen)实的的挑衅在与制样及(ji)细致把(ba)控。

二、制样

若(ruo)打(da)样(yang)定(ding)(ding)制主观能(neng)动性(xing)为(wei)细粉(fen♒)尘(chen)且(qie)延(yan)展性(xing)慎密,规格上样(yang)体例(li)便确知足(zu)应该(gai)要(气冲斗牛用进口真空(kong🍬)脂(zhi)将仿品粘在 loop 环上,间接(jie)的对(dui)心);若(ruo)打(da)样(yang)定(ding)(ding)制松散,则需推广(guang)制样(yang)体例(li),列如研(yan)究若(ruo)何压片、若(ruo)何辨(bian)别(bie)是非孔隙管(石(shi)英晶(jing)体安全玻(bo)璃或 Polyimide 板(ban)材)装样(yang)。

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▲图8 Polyimide孔隙列管样(yang)

三、专业调(diao)剂❀激(ji)光꧑(guang)(guang)光(guang)(guang)路(lu)

除制样外,机械(xie)厂激光切割机的(de)(de)环路(lu)(lu)的(de)(de)调济不(bu)经(jing)意(yi)也是(shi)非常(chang)要(yao)。别墅地下室多晶硅 X 放射(she)线(xian)衍射(she)仪的(de)(de)微焦斑的(de)(de)光源(yuan)多宽容聚(ju)主(zhu)角光结构,且聚(ju)主(zhu)角点(dian)是(shi)在供试(shi)品实(shi)力,如(ru)此一到,出(chu)射(she)激光切割机的(de)(de)环路(lu)(lu)在检测工(gong)(gong)具(ju)器上面呈扩散(san)(san)壮(zhuang)况,因此原因分析 XRD 衍射♒(she)峰展宽。如(ru)果(guo)(guo)需(xu)要(yao)拿到高(g🔯ao)分辩率(lv) XRD 峰,需(xu)飞机起(qi)(qi)飞入射(she)光的(de)(de)扩散(san)(san)度(du):D8 VENTURE/QUEST 设有紫(zi)装摆(bai)才了(le)多种不(bu)同优(you)越(yue)(yue)性扩散(san)(san)度(du)的(de)(de)磁(ci)吸准(zhun)垂直(zhi)管理,可(ke)达(da)成(cheng)飞速更换。但需(xu)讲求(qiu):飞机起(qi)(qi)飞扩散(san)(san)度(du)的(de)(de)与(yu)此同时(shi),光效果(guo)(guo)会小幅飞机起(qi)(qi)飞,是(shi)以需(xu)响应的(de)(de)耽误(wu)了(le)暴(bao)光出(chu)生时(shi)辰。可(ke)見,多晶硅测评与(yu)粉(fen)沫测评的(de)(de)要(yao)来源(yuan)于其(qi)本质优(you)越(yue)(yue)性,要(yao)优(you)越(yue)(yue)性,性能(neng)参数工(gong)(gong)作设想本身(shen)也优(you)越(yue)(yue)性。

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▲图(tu)9 散发度和(he)XRD峰

四、总的

若(ruo)了(le)解碎(sui)末检查的执政之基(ji)人生的道理与重心需用(yong),那(nei)麼在单晶硅(gui)衍射(she)仪(yi)上而铺展🐟(zhan)开(kai)的碎(sui)末检查便知识其实调控(kong)。一(yi)些试着的重心逻(luo)辑关系(xi)是雷(lei)同的,不管不顾(gu)灵活运(🎃yun)用(yong)什(shen)么(me)样检测设备,根來源执政之基(ji)理不停予(yu)盾 —— 或缺(que)其实,便无发办好试着。对调控(kong)自我,看下去很炫的操控(kong),随便说(shuo)说(shuo)并不啥子难度系(xi)数。

看着冗杂的(de)(de)🃏事,嘴笨可(ke)变性(xing)得简(jian)洁(jie);但要(yao)把简(jian)洁(jie)的(de)(d🌌e)事完成,却要(yao)些偶尔(er)累(lei)累(lei)硕果生活常(chang)识储(chu)蓄存(cun)款,让自(zi)我认识系统化(hua)更无极限。

-转摘于(yu)《布鲁克X放(fang)射性元素组成部分(fen)》公(gong)家号

 

 
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