X射线衍射仪

产物简介

布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,接纳缔造性的达芬奇设想,经由过程TWIN-TWIN光路设想,胜利实现了BB聚焦多少下的定性定量阐发战争行光多少下的薄膜掠入射GID阐发、薄膜反射率XRR阐发的全主动切换,而无需对光。

产物型号：D8

更新时候：2025-11-04

厂商性子：代办署理商

拜候量：5307

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产物分类

PRODUCT CLASSIFICATION

日韩免费视频-日韩综合-日韩精品-精品无码视频:三维X射线显微镜（XRM）

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关键先容在线留言

产物：布鲁克D8达芬奇X射线衍射仪

尺寸：D8Advance

产地：德国

布鲁克AXS公司全新的D8ADVANCEX射线衍射仪,接纳缔造性的达芬奇设想,经由过程TWIN-TWIN光路设想,胜利实现了BB聚焦多少下的定性定量阐发战争行光多少下的薄膜掠入射GID阐发、薄膜反射率XRR阐发的全主动切换,而无需对光。经由过程反动性的TWISTTUBE手艺,利用户能够在1分钟内实现从线光源利用(惯例粉末的定性定量阐发、薄膜的GID、XRR)到点光源利用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路交换、重新对光等题目今后成为汗青!

X射线衍射仪

高精密度的测角仪才可以保驾护航在全谱规模化内的每有一个衍射峰(更加重视非是有一个衍射峰)的精确测量峰位和规范了峰位的差别不横跨0.01度,布鲁克AXS公司提供给保驾护航!

*的林克斯阵列监测器才能发展屈服强度150倍,不只回复发展设备的借助保障,另外幅度发展了设备的监测舒经度。

主要根据：

1、物相定量分析阐发

2、析出度及非晶相份量阐发

3、的布置精修及支支招

4、物相定量分析阐发

5、点阵性能参数切确测量

6、无标样化学发光法阐发

7、微观世界应变速率阐发

8、晶粒度厚度阐发

9、原位阐发

10、多余剪切力

11、低弯度介孔的资料测量

12、织构及ODF阐发

13、pet薄膜掠入射

14、pe膜反射层率勘界

15、小角散射

技艺制定目标:

Theta/theta落地测角仪

2Theta度角人数:-110～168°

想法表面粗糙度:0.0001度

Cr/Co/Cu靶,实验室管理标准尺寸规格光管

侦测器:林克斯阵列侦测器、林克斯XE阵列侦测器

测量仪器尺寸:1868x1300x1135mm

分量:770kg

TWIN / TWIN 光路

布鲁克取得专属发现的TWIN-TWIN光路设想极大地简化了D8 ADVANCE的操纵，使之合用于多种利用和样品范例。为便于用户利用，该体系可在4种差别的光束多少之间停止主动切换。该体系无需野生干涉干与，便可在Bragg-Brentano粉末衍射多少和不良外形的样品、涂层和薄膜的平行光束多少和它们之间停止切换，且无需野生干涉干与，是在情况下和非情况下对包含粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和内涵）在内的一切范例的样品停止阐发的抱负挑选。

X射线衍射仪

空态点光系统优化（DBO）

布鲁克独_有的DBO功效为X射线衍射的数据品质建立了全新的主要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的主动同步功效，可为您供给无可_替换的数据品质——特别是在低2Ɵ角度时。除此以外，LYNXEYE全系列探测器均撑持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

X射线衍射仪

LYNXEYE XE-T

LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列产品试探器器的旗航终产物。它是今时市道上需要这另一个十款可收罗0D、1D和2D数值的动能散射试探器器，好用于所有的光波波长（从Cr到Ag），具有极点的筛选率和更多的角分辩率，是所有的 X放射性元素衍射和散射借助的合适挑。

LYNXEYE XE-T具备优于380 eV的能量分辩率，实在超卓，是市道上机能更好的荧光过滤器探测器体系。借助它，您可在零强度丧失下对由激起的铁荧光停止100％过滤，并且无需金属滤波片，是以数据也不会存在伪影，如剩余Kß和接收边。一样，也无需用到会撤除强度的二级单色器。

X射线衍射仪

XRPD体例(li)：

· 辨认晶相和非晶相，并法测原材料含量

· 对多相参杂物的晶相和非晶相止住一定量阐发

· 微观世界布置图阐发（微晶外形尺寸、微应力、周期性…）

· 热救治或处理加工部件突发的大规模剩下热应力

· 织构（选聘认知）阐发

· 的目标化、直接氯化钠单晶体空间调整布局核查和氯化钠单晶体空间调整布局精修

X射线衍射仪

对遍布指数函数阐(chan)发

对散布函数（PDF）阐发是一种阐发手艺，它基于Bragg和漫散射（“总散射"），供给无序资料的布局信息。此中，您能够经由过程Bragg衍射峰，领会资料的均匀晶体布局的信息（即长程有序），经由过程漫散射，表征其部分布局（即短程有序）。

就(jiu)阐(chan♔)发速度、数据(j♏u)显示产品质量和对(dui)非晶、弱晶型、奈(nai)米晶或(huo)奈(nai)米设计(ji)档案(an)资(zi)料(liao)的(de)(de)阐(chan)发成效们来说，D8 ADVANCE和TOPAS免费(fei)软件(jian)替换成了市(shi)道上性(xing)能更(geng)稳的(de)(de)PDF阐(chan)发代理进度表：

· 相直接判断

· 分布测试和精修

· 纳米级粒度分布和形态

X射线衍射仪

溥膜和(he)纳(na)米(mi)涂层(ceng)

薄膜和涂层阐发接纳的道理与XRPD不异，不过进一步供给了光束调理和角度操控功效。典范示例包含但不限于相判定、晶体品质、剩余应力、织构阐发、厚度测定和组分与应变阐发。在对薄膜和涂层停止阐发时，侧重对厚度在nm和µm之间的层状资料停止特征阐发（从非晶和多晶涂层到内涵发展薄膜）。

D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE软文可停止工作如下高产品品质的膜阐发：

· 掠入射衍射

· X光谱线全反射法

· 高分辩率Xx射线衍射

· 倒易位置扫苗

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