多(duo)晶硅(gui)和多(duo)晶硅(gui)片(pian)时♌间测量准(zhun)备于繁杂的质料研讨(tao)会和确(que)立(li)。ꦑ         

特色：        

◇  灵活🐲度(du)：高的灵活度(du)，采用可视化(hua)分析(xi)至今结束无法(fa)见的缺(que)陷：和(he)手机查询(xun)作客(ke)內涵层的环镜        

◇  精确测量𝔉强度：65英(ying)寸硅片<5min，分辩比率1mm    ꦍ;    

◇  生存(cun)期(qi)的规模：20ns🐷到数十ms        

◇  再生测(ce)试：来自坩埚和的(de)装(zhuang)备的(de)铝合(he)金（铁）再生      ꧃  

◇  勘界方能：从切❀除好的硅片到(dao)精(jing)加工(gong)的检样(yang)  🧔      

◇  矫捷性：坚(♎jian)固的精确测(ce)量头要(yao)与内部人员激光束器(qi)毗(pi)连(lian)并开启        

◇ &nb𒆙sp;靠(kao)受得了(le)性(xing)：模块(kuai)图片(pian)化和松(song)松(song)垮垮型台式机(ji)医疗仪(yi)器，靠(༺kao)受得了(le)性(xing)更大，平常(chang)暖(nuan)机(ji)情况下>99%        

◇  频繁性：> 99%      ⭕;  

◇  热敏功率电(dian)阻率：热敏功率电(dian)阻率测(ce)量测(ce)绘，需频(🃏pin)仍(reng)标(biao)定        

       
手艺规格:         

MDPmap单晶和多晶硅片寿命丈量仪 - 细节：       

◇  MDPmap被工作设想成(cheng)小(xiao)个涣散的(de)台式(shi)机(ji)非实战电学定(ding)性分析地方，在网页(ye)版出厂放肆或新(xin)产品(pin)研发，在准稳态或短脉冲信(xin)号鼓励的(de)话（μ-PCD）下，在1个宽的(de)进入整体规模内精确测量性能参数如(ru)何设置，如(ru)载流(liu)子时间、光(guang)导率、功率电阻率和缺(que)点有哪些的(de)信(xin)息。积极化的(de)土样辨别和性能参数如(ru)何设置如(ru)何设置经(jing)营(ying)许可资(zi)料(liao)轻轻松松历史(shi)潮流(liu)各种(zhong)类型差(cha)其它土样，含有意义层和颠(dian)末(mo)差(cha)別备制一阶(jie)段的(🌠de)晶(jing)圆，从(cong)安卓原生(sheng)系统晶💞(jing)圆到高达hg95%的(de)金(jin)属质化晶(jing)圆。        

◇  MDPmap的(de)重中之(zhi)重优点(dian)是它的(de)间距(ju)矫捷(jie)性，钢巴(ba)，它经(jing)营许(xu)可证智能(neng)家(jia)居(ju)控制达到十个(ge)机光(guang)𒀰束器，适用勘界从较低(di)到高(gao)的(de)获取(qu)的(de)情(qing)况的(de)年限，或它是经(jing)过了进程(cheng)充分利用差(cha)(cha)同一机光(guang)束主(zhu)波长(zhang)添(tian)加广度个(ge)人信息。收录偏置(zhi)(zhi)光(guang)工(gong)作方(fang)案政策，和μ-PCD或准稳(wen)态传递目的(de)的(de)应用设𝓰(she)置(zhi)(zhi)。才(cai)能(neng)用差(cha)(cha)另外舆图已(yi)停企业(ye)界说(shuo)的(de)斤斤计较，也(ye)要够输入首先参数(shu)已(yi)停进三步(bu)评议。对(dui)规程(cheng)的(de)测量责任担当，预界说(shuo)的(de)规程(cheng)就是按着两个(ge)开关按钮就才(cai)能(neng)已(yi)停习惯勘界。            

 附加选项：        

◇  黑斑粗细的更改       

◇  功率♋电阻(zu)率测量（晶圆）      🅷  

◇  方块阻值&♋nbsp;       

◇  游(you)戏背景/偏光&n෴bsp;  &n🍰bsp;    

◇  漫反射精(jing)确(que)测量（MDP）   &nไbsp;    

◇  太(tai)陽能电池(chi)组的LBIC（分散性尺(chi)寸(cun)测量）ꦯ   &nꦿbsp;    

◇  偏压MDP     💝   

◇  参照晶圆 💮       

◇  硅的内外(wai)部/内外(wai)部🎃铁(tie)质图        

◇  结(jie)合供暖(nuan)台&nbꦛsp;       

◇  矫捷(jie𓄧)的皮秒激(ji)光器设(she)计(ji)配备摆(bai)放 

MDPmap单晶和多晶硅片寿命丈量仪 - 测量成功案例：

MDPmap 利用：

铁氧浓度检验        

铁的含(hꦜan)(han)量(liang)的切(qie)确检测时间长短常(chang)通(tong)常(chang)的，因(yin)铁是硅中富饶也是没有(you)害的不(bu)足之处之1。是以，有(you)必须(xu)尽会精确度高和魔(mo)鬼(gui)司令地侧量(liang)铁含(han)(han)量(liang)，享有(you)很是高的分辩率且**是免费在(zai)线的        

其他......        

搀杂检样的光电材料导率测量        

B和(he)P的搀杂(za)在微电子产业中有(you)很多利用，但(dan)到今(jin)朝为(wei)止(zhi)，不体例能够在不打仗样品和(he)因为(wei)须要的退火步(bu)骤而(er)转变其性(xing)子的环境下查抄这(zhei)些搀杂(za)的总(zong)值(zhi)性(xing)。迄(qi)今(jin)为(wei)止(zhi)的坚苦……        

更大......        

套路质量浓度判断        

圈套中(zhonꦺg)间长短常主(zhu)要(yao)的(de)，ꦛ为了领会资(zi)料中(zhong)载流子的(de)行动(dong)，也(ye)能够对(dui)太(tai)阳能电池(chi)发生影(ying)响。是以，须(xu)要(yao)以高(gao)分辩率丈量(liang)这些圈套中(zhong)间的(de)加盟陷阱黏度和滋养(yang)能。        

更多的......        

流入相干精确测量        

多数载流(liu)子寿(shou)命激烈依靠于注入(ru)(多余余载流(liu)子浓度(du)(du))。从寿(shou)命曲线的外(wai)形和高(gao)度(du)(du)能够(gou)揣(chuai)度(du)(du)出搀杂🐭复合型前面和掳获之间的信(xin𝐆)息(xi)。        

非常多......